Детали данных контактных устройств изготовлены из полиэфиримида (PEI) / полиэфирсульфона (PES) / полиэфирэфиркетона (PEEK) и из сплава алюминия (2024 т3511). Механизм прижатия электронного компонента (прижим) — сложный: обеспечивается прецизионное, равномерное прижатие электронного компонента к контактам. Крайнее положение прижима, когда обеспечивается полный контакт электронного компонента с тестовой платой — дополнительно фиксируется в механизме прижима.

Контакты: бериллиевая бронза, покрытая золотом (BeCu, Au Plate). Пружины в контактах: нержавеющая сталь, покрытая золотом (SS, Au Plate). В открытом состоянии контактного устройства контакты защищены дополнительной пластиной, которая открывает их (контакты) только в момент прижима электронного компонента. Контакты подпружинены с двух сторон. При этом контактное устройство устанавливается на площадки тестовой платы, фиксируется штифтами и крепится винтами.

В крышке контактного устройства, которая обеспечивает прижим электронного компонента к контактам, может быть предусмотрено:

• установка (вкручивание) радиатора для охлаждения электронного элемента
• установка медного водоблока для охлаждения электронного элемента

Снизу контактного устройства предусмотрена пластина из сплава алюминия (2024 т3511), которая через диэлектрик прилегает к обратной стороне тестовой платы. Данная пластина исправляет не плоскостность тестовой печатной платы и способствует обеспечению надежного контакта между контактным устройством и тестовой платой.

Базовые характеристики:

• шаг вывода от 0,3 мм
• диапазон частот до 23ГГц
• сопротивление контактов 16…100 мОм
• индуктивность 0,93…1,52 нГн
• ёмкость 0,19…0,81 пФ
• температурный диапазон -60…+155
• максимальный ток до 4А